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Mitigating Read Failures in STT-MRAM

Nair, S. M.; Bishnoi, R.; Tahoori, M. B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/VTS48691.2020.9107605
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72815-359-9
KITopen-ID: 1000122093
Erschienen in 38th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2020, San Diego, United States, 5 - 8 April 2020
Veranstaltung 38th VLSI Test Symposium (VTS 2020), San Diego, CA, USA, 05.04.2020 – 08.04.2020
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten Art.Nr.9107605
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