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Special Session - Emerging Memristor Based Memory and CIM Architecture: Test, Repair and Yield Analysis

Bishnoi, R.; Wu, L.; Fieback, M.; Munch, C. 1; Nair, S. M. 1; Tahoori, M. 1; Wang, Y.; Li, H.; Hamdioui, S.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/VTS48691.2020.9107595
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Zitationen: 7
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72815-359-9
KITopen-ID: 1000122094
Erschienen in 38th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2020, San Diego, United States, 5 - 8 April 2020
Veranstaltung 38th VLSI Test Symposium (VTS 2020), San Diego, CA, USA, 05.04.2020 – 08.04.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art.Nr. 9107595
Nachgewiesen in Dimensions
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