Special Session - Emerging Memristor Based Memory and CIM Architecture: Test, Repair and Yield Analysis
Bishnoi, R.; Wu, L.; Fieback, M.; Munch, C.
1; Nair, S. M. 1; Tahoori, M. 1; Wang, Y.; Li, H.; Hamdioui, S.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Nair, S. M. 1; Tahoori, M. 1; Wang, Y.; Li, H.; Hamdioui, S.1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-72815-359-9 KITopen-ID: 1000122094 |
| Erschienen in | 38th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2020, San Diego, United States, 5 - 8 April 2020 |
| Veranstaltung | 38th VLSI Test Symposium (VTS 2020), San Diego, CA, USA, 05.04.2020 – 08.04.2020 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | Art.Nr. 9107595 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |