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A multi-dimensional full automatic power semiconductor test bench for accurate semiconductor loss calculation

Stamer, Fabian; Schwendemann, Rüdiger; Hiller, Marc



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Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Elektrotechnisches Institut (ETI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-4938-6
ISSN: 2191-3358
KITopen-ID: 1000122447
HGF-Programm 37.06.01 (POF III, LK 01) Networks and Storage Integration
Erschienen in International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management (PCIM Europe 2019), Nürnberg, 7.-9. Mai 2019
Veranstaltung PCIM Europe 2019 - Internationale Fachmesse und Konferenz für Leistungselektronik, Intelligente Antriebstechnik, Erneuerbare Energie und Energiemanagement (2019), Nürnberg, Deutschland, 07.05.2019 – 09.05.2019
Seiten 1411-1418
Serie Conference proceedings
Nachgewiesen in Scopus
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