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Dynamic Faults based Hardware Trojan Design in STT-MRAM

Nair, S. M.; Bishnoi, R.; Vijayan, A.; Tahoori, M. B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/DATE48585.2020.9116471
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9819263-4-7
KITopen-ID: 1000122833
Erschienen in Proceedings of the 2020 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2020, Grenoble, France, 9 - 13 March 2020
Veranstaltung Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2020), Grenoble, Frankreich, 09.03.2020 – 13.03.2020
Verlag EDA Consortium, [S.l.)
Seiten 933-938
Nachgewiesen in Scopus
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