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Reproducibility of two calibration procedures for phase-measuring deflectometry

Allgeier, Stephan; Gengenbach, Ulrich; Köhler, Bernd; Reichert, Klaus-Martin; Hagenmeyer, Veit

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000122875
Veröffentlicht am 14.05.2021
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 21.08.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-3787-0
KITopen-ID: 1000122875
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Erschienen in Interferometry XX; 114900G - SPIE Optical Engineering + Applications, San Diego, 24. - 28. August 2020 |
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Seiten 14
Serie Proceedings of SPIE ; 11490
Bemerkung zur Veröffentlichung Konferenz für Optikanwendungen



Die Veranstaltung fand wegen der Corona-Pandemie als Online-Event statt.
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