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Impact of Radiation on Negative Capacitance FinFET

Bajpai, G. 1; Gupta, A.; Prakash, O. 1; Pahwa, G.; Henkel, J. 1; Chauhan, Y. S. 1; Amrouch, H. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRPS45951.2020.9129165
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Zitationen: 6
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Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 30.06.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72813-199-3
ISSN: 1541-7026
KITopen-ID: 1000123026
Erschienen in 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2020; Virtual, Online; United States; 28 April 2020 through 30 May 2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art. Nr.: 9129165
Serie 2020-April
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