Impact of Radiation on Negative Capacitance FinFET

Bajpai, G. ¹; Gupta, A.; Prakash, O. ¹; Pahwa, G.; Henkel, J. ¹; Chauhan, Y. S. ¹; Amrouch, H. ¹
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRPS45951.2020.9129165

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum	30.06.2020
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-72813-199-3 ISSN: 1541-7026 KITopen-ID: 1000123026
Erschienen in	2020 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2020; Virtual, Online; United States; 28 April 2020 through 30 May 2020
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	Art. Nr.: 9129165
Serie	2020-April
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus