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Impact of Extrinsic Variation Sources on the Device-to-Device Variation in Ferroelectric FET

Ni, K.; Gupta, A.; Prakash, O.; Thomann, S.; Hu, X. S.; Amrouch, H.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRPS45951.2020.9128323
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Zitationen: 7
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 30.06.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72813-199-3
ISSN: 1541-7026
KITopen-ID: 1000123028
Erschienen in 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2020; Virtual, Online; United States; 28 April 2020 through 30 May 2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art. Nr.: 9128323
Serie IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings ; 2020-April
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