Impact of Extrinsic Variation Sources on the Device-to-Device Variation in Ferroelectric FET

Ni, K.; Gupta, A.; Prakash, O. ¹; Thomann, S. ¹; Hu, X. S.; Amrouch, H. ¹
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRPS45951.2020.9128323

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum	30.06.2020
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-72813-199-3 ISSN: 1541-7026 KITopen-ID: 1000123028
Erschienen in	2020 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2020; Virtual, Online; United States; 28 April 2020 through 30 May 2020
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	Art. Nr.: 9128323
Serie	IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings ; 2020-April
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus