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Offset compensation with free form geometric modeling

Naab, Christoph



Zugehörige Institution(en) am KIT Geodätisches Institut (GIK)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsdatum 25.01.2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000123261
Veranstaltung Workshop: Surface modeling (2013), München, Deutschland, 25.01.2013
Schlagwörter industrial measurement; tactile measurement technology; large volume metrology; LVM; laser tracker; offset compensation; freeform surface modeling
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