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Bad Nodes Considered Harmful: How to Find and Fix the Problem

Seiz, Marco; Hötzer, Johannes; Hierl, Henrik; Andersson, Stefan; Nestler, Britta



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-030-39181-2_11
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-030-39180-5
KITopen-ID: 1000123338
Erschienen in Sustained Simulation Performance 2018 and 2019 – Proceedings of the Joint Workshops on Sustained Simulation Performance, University of Stuttgart (HLRS) and Tohoku University, 2018 and 2019. Ed.: M. Resch
Verlag Springer International Publishing
Seiten 123–130
Vorab online veröffentlicht am 31.03.2020
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