Bad Nodes Considered Harmful: How to Find and Fix the Problem
Seiz, Marco
; Hötzer, Johannes; Hierl, Henrik; Andersson, Stefan; Nestler, Britta
; Hötzer, Johannes; Hierl, Henrik; Andersson, Stefan; Nestler, Britta| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-030-39180-5 KITopen-ID: 1000123338 |
| Erschienen in | Sustained Simulation Performance 2018 and 2019 – Proceedings of the Joint Workshops on Sustained Simulation Performance, University of Stuttgart (HLRS) and Tohoku University, 2018 and 2019. Ed.: M. Resch |
| Verlag | Springer International Publishing |
| Seiten | 123–130 |
| Vorab online veröffentlicht am | 31.03.2020 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |