KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Defect Characterization and Test Generation for Spintronic-based Compute-In-Memory

Mohanachandran Nair, S.; Münch, C.; Tahoori, M. B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS48528.2020.9131582
Scopus
Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72814-312-5
ISSN: 1530-1877
KITopen-ID: 1000123355
Erschienen in Proceedings 2020 IEEE European Test Symposium (ETS): ETS 2020, May 25-29, 2020, Tallinn, Estonia
Veranstaltung IEEE European Test Symposium (ETS 2020), Reval, Estland, 25.05.2020 – 29.05.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page