Defect Characterization and Test Generation for Spintronic-based Compute-In-Memory
Mohanachandran Nair, S.; Münch, C.
1; Tahoori, M. B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Tahoori, M. B. 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-72814-312-5 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000123355 |
| Erschienen in | Proceedings 2020 IEEE European Test Symposium (ETS): ETS 2020, May 25-29, 2020, Tallinn, Estonia |
| Veranstaltung | IEEE European Test Symposium (ETS 2020), Reval, Estland, 25.05.2020 – 29.05.2020 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |