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Finding the sweet spot: Batch selection for one-class active learning

Englhardt, A.; Trittenbach, H.; Vetter, D.; Böhm, K.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1137/1.9781611976236.14
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-61197-623-6
KITopen-ID: 1000123358
Erschienen in Proceedings of the 2020 SIAM International Conference on Data Mining. Ed.: C. Demeniconi
Verlag SIAM
Seiten 118-126
Bemerkung zur Veröffentlichung Die Veranstaltung "SIAM International Conference on Data Mining (SDM20), May 7 - 9, 2020, Cincinnati, Ohio, U.S." wurde aufgrund der Corona-Pandemie abgesagt.
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