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Study of CMOS strip sensor for future silicon tracker

Han, Y.; Zhu, H.; Affolder, A.; Arndt, K.; Bates, R.; Benoit, M.; Di Bello, F.; Blue, A.; Bortoletto, D.; Buckland, M.; Buttar, C.; Caragiulo, P.; Chen, Y.; Das, D.; Doering, D.; Dopke, J.; Dragone, A.; Ehrler, F.; Fadeyev, V.; Fedorko, W.; ... mehr



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.nima.2020.164520
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0168-9002, 1872-9576
KITopen-ID: 1000123505
Erschienen in Nuclear instruments & methods in physics research / A
Band 981
Seiten Art.-Nr.: 164520
Nachgewiesen in Scopus
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