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High-precision laser ranging for industrial metrology with dual-color electro-optic frequency combs

Weimann, C.; Hoeller, F.; Freude, W.; Koos, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000123795
Erschienen in 116th Annual DGaO Conference (DGaO’15), 26-29 May, Brno, Czech Republic
Veranstaltung 116th Annual DGaO Conference (DGaO 2015), Brünn, Tschechien, 26.05.2015 – 29.05.2025
Verlag DGao, Erlangen
Seiten talk A4
Externe Relationen Siehe auch
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