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A portable ultrahigh vacuum organic molecular beam deposition system for in situ x-ray diffraction measurements

Ritley, K. A.; Krause, Bärbel; Schreiber, F.; Dosch, H.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.1336822
Scopus
Zitationen: 51
Web of Science
Zitationen: 49
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748
KITopen-ID: 1000123831
Erschienen in Review of scientific instruments
Band 72
Heft 2
Seiten Article no: 1453
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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