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Ion beam oxidation of Nb-based Josephson junctions

Herwig, R.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1049/el:19800604
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Zitationen: 6
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Zitationen: 11
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1980
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0013-5194
KITopen-ID: 1000123926
Erschienen in Electronics letters
Verlag Institution of Engineering and Technology (IET)
Band 16
Heft 22
Seiten 850-851
Nachgewiesen in Web of Science
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