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Lichtfeld-Tiefenschätzung für die Vermessung teilspiegelnder Oberfläche = Light field depth estimation for the measurement of partially specular surfaces

Uhlig, David; Heizmann, Michael

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2020-0022
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 28.08.2020
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 2196-7113, 0171-8096
KITopen-ID: 1000123960
Erschienen in Technisches Messen
Band 87
Heft s1
Seiten s9–s15
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