Lichtfeld-Tiefenschätzung für die Vermessung teilspiegelnder Oberfläche = Light field depth estimation for the measurement of partially specular surfaces

¹; Heizmann, Michael ¹
¹ Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000123960

Veröffentlicht am 29.08.2021

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2020-0022

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum	28.08.2020
Sprache	Deutsch
Identifikator	ISSN: 2196-7113, 0171-8096 KITopen-ID: 1000123960
Erschienen in	Technisches Messen
Verlag	De Gruyter
Band	87
Heft	s1
Seiten	s9–s15
Nachgewiesen in	Dimensions Web of Science