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Incorporation of phase information for improved time-dependent instrument recognition

Schwabe, Markus; Elaiashy, Omar; Puente León, Fernando

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2020-0031
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 09.2020
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 2196-7113, 0171-8096
KITopen-ID: 1000124005
Erschienen in Technisches Messen
Band 87
Heft s1
Seiten s62–s67
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