Simulation of a NDRO memory cell with very small excess current Josephson junctions
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 04.1984 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0011-2275 KITopen-ID: 1000124021 |
| Erschienen in | Cryogenics |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 24 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 179–182 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions OpenAlex Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |
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seit 04.10.2020
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