Electron Beam Testing of Josephson Junction Voltages
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 01.1987 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-4922, 1347-4065 KITopen-ID: 1000124057 |
| Erschienen in | Japanese journal of applied physics |
| Verlag | Japan Society of Applied Physics |
| Band | 26 |
| Heft | S3-2 |
| Seiten | 1587 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |