KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Electron Beam Testing of Josephson Junction Voltages

Sadorf, H.; Jutzi, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.1987
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-4922, 1347-4065
KITopen-ID: 1000124057
Erschienen in Japanese journal of applied physics
Band 26
Heft S3-2
Seiten 1587
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page