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Electron Beam Testing of Josephson Junction Voltages

Sadorf, H. 1; Jutzi, W. 1
1 Universität Karlsruhe (TH)


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.1987
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-4922, 1347-4065
KITopen-ID: 1000124057
Erschienen in Japanese journal of applied physics
Verlag Japan Society of Applied Physics
Band 26
Heft S3-2
Seiten 1587
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Dimensions
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