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Microscopic Simulation of Shapiro Steps near the Gap Voltage of Very High Current Density Josephson Junctions

Jutzi, W.; Crocoll, E.; Marz, J.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.7567/JJAPS.26S3.1589
Scopus
Zitationen: 2
Web of Science
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.1987
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-4922, 1347-4065
KITopen-ID: 1000124058
Erschienen in Japanese journal of applied physics
Band 26
Heft S3-2
Seiten 1589
Nachgewiesen in Scopus
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