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Microscopic Simulation of Shapiro Steps near the Gap Voltage of Very High Current Density Josephson Junctions

Jutzi, W. 1; Crocoll, E. 1; Marz, J. 1
1 Universität Karlsruhe (TH)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.7567/JJAPS.26S3.1589
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Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.1987
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-4922, 1347-4065
KITopen-ID: 1000124058
Erschienen in Japanese journal of applied physics
Verlag Japan Society of Applied Physics
Band 26
Heft S3-2
Seiten 1589
Nachgewiesen in Web of Science
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