KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Evaluation of the mechanical properties of germanium-on-insulator (GeOI) films by Raman spectroscopy and nanoindentation

Mohammed, Y. S.; Zhang, K.; Heissler, S.; Baumgart, H.; Elmustafa, A. A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550, 1520-8850, 2163-5102
KITopen-ID: 1000124109
Erschienen in Journal of applied physics
Band 128
Heft 6
Seiten Art.-Nr.: 065104
Vorab online veröffentlicht am 12.08.2020
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page