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Transport properties of epitaxial YBa$_2$Cu$_3$O$_x$ films at step edges

Friedl, G.; Roas, B.; Römheld, M.; Schultz, L.; Jutzi, W.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.105877
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Zitationen: 37
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.1991
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118
KITopen-ID: 1000124128
Erschienen in Applied physics letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 59
Heft 21
Seiten 2751–2753
Nachgewiesen in Dimensions
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