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Transport properties of epitaxial YBa2Cu3O x films at step edges

Friedl, G.; Roas, B.; Römheld, M.; Schultz, L.; Jutzi, W.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.105877
Scopus
Zitationen: 28
Web of Science
Zitationen: 35
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.1991
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118
KITopen-ID: 1000124128
Erschienen in Applied physics letters
Band 59
Heft 21
Seiten 2751–2753
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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