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Quality factors of coplanar niobium resonators on LaAlO3 substrates with different cross-sectional geometries

Benz, G.; Scherer, T.A.; Neuhaus, M.; Jutzi, W.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/S0011-2275(98)00047-2
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Zitationen: 4
Web of Science
Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.1998
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0011-2275
KITopen-ID: 1000124288
Erschienen in Cryogenics
Band 38
Heft 6
Seiten 697–700
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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