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Saturation Thickness for Josephson Tunnel Oxide on Niobium by Ion Beam Oxidation

Herwig, R.



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Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 08.1984
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0444869107
KITopen-ID: 1000124314
Erschienen in Proceedings of the 17th International Conference on Low Temperature Physics : LT-17 ; Universität Karlsruhe and Kernforschungszentrum Karlsruhe, 15 -22 August 1984. Pt.: 1. Ed.: U. Eckern
Veranstaltung 17th International Conference on Low Temperature Physics (LT 1984), Karlsruhe, Deutschland, 15.08.1984 – 22.08.1984
Verlag North-Holland, Amsterdam
Bemerkung zur Veröffentlichung International Conference on Low Temperature Physics (17 : 1984 : Karlsruhe)

Universität Karlsruhe (TH) Kernforschungszentrum Karlsruhe
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