Saturation Thickness for Josephson Tunnel Oxide on Niobium by Ion Beam Oxidation
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 08.1984 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 0444869107 KITopen-ID: 1000124314 |
| Erschienen in | Proceedings of the 17th International Conference on Low Temperature Physics : LT-17 ; Universität Karlsruhe and Kernforschungszentrum Karlsruhe, 15 -22 August 1984. Pt.: 1. Ed.: U. Eckern |
| Veranstaltung | 17th International Conference on Low Temperature Physics (LT 1984), Karlsruhe, Deutschland, 15.08.1984 – 22.08.1984 |
| Verlag | North-Holland Publishing |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | International Conference on Low Temperature Physics (17 : 1984 : Karlsruhe) Universität Karlsruhe (TH) Kernforschungszentrum Karlsruhe |
| Nachgewiesen in | Scopus |