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Temperaturabhängigkeit der Güte und des Intermodulationsproduktes von koplanaren Mikrowellenresonatoren aus Niob und YBCO

Benz, G.; Wünsch, S.; Scherer, T.A.; Neuhaus, M.; Jutzi, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Poster
Publikationsdatum 09.10.2000
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000124397
Veranstaltung Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2000), Pommersfelden, Deutschland, 08.10.2000 – 10.10.2000
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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