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Prediction of bending in SMC using a single parameter damage model that accounts for through thickness microstructural properties

Sabiston, Trevor; Pinter, Pascal; Lee-Sullivan, Pearl; Inal, Kaan



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.compstruct.2020.112377
Scopus
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 08.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0263-8223
KITopen-ID: 1000124544
Erschienen in Composite structures
Band 246
Seiten Art.-Nr.: 112377
Nachgewiesen in Scopus
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