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Prediction of bending in SMC using a single parameter damage model that accounts for through thickness microstructural properties

Sabiston, Trevor; Pinter, Pascal 1; Lee-Sullivan, Pearl; Inal, Kaan
1 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.compstruct.2020.112377
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Zitationen: 3
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Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 08.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0263-8223
KITopen-ID: 1000124544
Erschienen in Composite structures
Verlag Elsevier
Band 246
Seiten Art.-Nr.: 112377
Nachgewiesen in Scopus
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