KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

A Robust Hardened Latch Featuring Tolerance to Double-Node-Upset in 28nm CMOS for Spaceborne Application

Li, Yan; Cheng, Xu; Tan, Chiyu; Han, Jun; Zhao, Yuanfu; Wang, Liang; Li, Tongde; Tahoori, Mehdi B.; Zeng, Xiaoyang



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 09.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1549-7747, 1558-3791
KITopen-ID: 1000124737
Erschienen in IEEE transactions on circuits and systems / 2
Band 67
Heft 9
Seiten 1619–1623
Vorab online veröffentlicht am 31.07.2020
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page