A Robust Hardened Latch Featuring Tolerance to Double-Node-Upset in 28nm CMOS for Spaceborne Application
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 09.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1549-7747, 1558-3791 KITopen-ID: 1000124737 |
| Erschienen in | IEEE transactions on circuits and systems / 2 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 67 |
| Heft | 9 |
| Seiten | 1619–1623 |
| Vorab online veröffentlicht am | 31.07.2020 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |