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An Approach to Cost-Efficient Fault Tolerance in Inherently Redundant Fail-Operational Systems

Dörr, Tobias; Sandmann, Timo; Friederich, Patrick; Leitner, Arnd; Becker, Jürgen



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/DSD51259.2020.00103
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 08.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72819-535-3
KITopen-ID: 1000124783
Erschienen in 2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)
Veranstaltung 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (2020), online, 26.08.2020 – 28.08.2020
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
Seiten 630–637
Bemerkung zur Veröffentlichung Die Veranstaltung fand wegen der Corona-Pandemie als Online-Event statt.
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