Gap localization of multiple TE‐Modes by arbitrarily weak defects
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Analysis (IANA) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0024-6107, 1469-7750 KITopen-ID: 1000124967 |
| Erschienen in | Journal of the London Mathematical Society |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 102 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 773-795 |
| Vorab online veröffentlicht am | 20.05.2020 |
| Externe Relationen | Abstract/Volltext |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |