KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Gap localization of multiple TE‐Modes by arbitrarily weak defects

Brown, B. M.; Hoang, V.; Plum, M.; Radosz, M.; Wood, I.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Analysis (IANA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0024-6107, 1469-7750
KITopen-ID: 1000124967
Erschienen in Journal of the London Mathematical Society
Verlag John Wiley and Sons
Band 102
Heft 2
Seiten 773-795
Vorab online veröffentlicht am 20.05.2020
Externe Relationen Abstract/Volltext
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page