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Gap localization of multiple TE‐Modes by arbitrarily weak defects [in press]

Brown, B. M.; Hoang, V.; Plum, M.; Radosz, M.; Wood, I.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Analysis (IANA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0024-6107, 1469-7750
KITopen-ID: 1000124967
Erschienen in Journal of the London Mathematical Society
Vorab online veröffentlicht am 20.05.2020
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