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Reproducibility and calibration of MMC-based high-resolution gamma detectors

Bates, C. R.; Pies, C.; Kempf, S.; Hengstler, D.; Fleischmann, A.; Gastaldo, L.; Enss, C.; Friedrich, S.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4958699
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Zitationen: 12
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Zitationen: 10
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Zitationen: 11
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118, 1520-8842
KITopen-ID: 1000124985
Erschienen in Applied physics letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 109
Heft 2
Nachgewiesen in Web of Science
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