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The electron capture $^{163}$Ho experiment ECHo

Gastaldo, L.; Blaum, K.; Doerr, A.; Düllmann, Ch.E.; Eberhardt, K.; Eliseev, S.; Enss, C.; Faessler, Amand; Fleischmann, A.; Kempf, S.; Krivoruchenko, M.; Lahiri, S.; Maiti, M.; Novikov, Yu N.; Ranitzsch, P.C.-O.; Simkovic, F.; Szusc, Z.; Wegner, M.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s10909-014-1187-4
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 03.05.2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2291, 1573-7357
KITopen-ID: 1000124992
Erschienen in Journal of low temperature physics
Verlag Springer
Band 176
Heft 5-6
Seiten 876–884
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