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The electron capture 163Ho experiment ECHo

Gastaldo, L.; Blaum, K.; Doerr, A.; Düllmann, Ch E.; Eberhardt, K.; Eliseev, S.; Enss, C.; Faessler, Amand; Fleischmann, A.; Kempf, S.; Krivoruchenko, M.; Lahiri, S.; Maiti, M.; Novikov, Yu N.; Ranitzsch, P. C. O.; Simkovic, F.; Szusc, Z.; Wegner, M.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s10909-014-1187-4
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Zitationen: 69
Web of Science
Zitationen: 63
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2291, 1573-7357
KITopen-ID: 1000124992
Erschienen in Journal of low temperature physics
Band 176
Heft 5-6
Seiten 876-884
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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