The electron capture $^{163}$Ho experiment ECHo
Gastaldo, L.; Blaum, K.; Doerr, A.; Düllmann, Ch. E.; Eberhardt, K.; Eliseev, S.; Enss, C.; Faessler, Amand; Fleischmann, A.; Kempf, S.; Krivoruchenko, M.; Lahiri, S.; Maiti, M.; Novikov, Yu N.; Ranitzsch, P. C.-O.; Simkovic, F.; Szusc, Z.; Wegner, M.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 03.05.2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0022-2291, 1573-7357 KITopen-ID: 1000124992 |
| Erschienen in | Journal of low temperature physics |
| Verlag | Springer |
| Band | 176 |
| Heft | 5-6 |
| Seiten | 876–884 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |