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Recent Results for the ECHo Experiment

Hassel, C.; Blaum, K.; Goodacre, T. Day; Dorrer, H.; Düllmann, Ch E.; Eberhardt, K.; Eliseev, S.; Enss, C.; Filianin, P.; Fäßler, A.; Fleischmann, A.; Gastaldo, L.; Goncharov, M.; Hengstler, D.; Jochum, J.; Johnston, K.; Keller, M.; Kempf, S.; Kieck, T.; ... mehr


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s10909-016-1541-9
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Zitationen: 19
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Zitationen: 16
Dimensions
Zitationen: 18
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2291, 1573-7357
KITopen-ID: 1000124995
Erschienen in Journal of low temperature physics
Verlag Springer
Band 184
Heft 3-4
Seiten 910-921
Nachgewiesen in Scopus
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