Characterization of the reliability and uniformity of an anodization-free fabrication process for high-quality Nb/Al–AlO$_x$/Nb Josephson junctions
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 07.05.2013 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISSN: 0953-2048, 1361-6668 KITopen-ID: 1000125000 |
| Erschienen in | Superconductor science and technology |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 26 |
| Heft | 6 |
| Seiten | Art.Nr.: 065012 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |