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Development of MMC Gamma Detectors for Precise Characterization of Uranium Isotopes

Kim, G. B.; Flynn, C. C.; Kempf, S.; Gastaldo, L.; Fleischmann, A.; Enss, C.; Friedrich, S.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s10909-018-1978-0
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Zitationen: 5
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Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2291, 1573-7357
KITopen-ID: 1000125008
Erschienen in Journal of low temperature physics
Verlag Springer
Band 193
Heft 5-6
Seiten 1236-1242
Nachgewiesen in Scopus
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