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Post-Silicon Heat-Source Identification and Machine-Learning-Based Thermal Modeling Using Infrared Thermal Imaging

Sadiqbatcha, Sheriff; Zhang, Jinwei; Zhao, Hengyang; Amrouch, Hussam; Henkel, Jorg; Tan, Sheldon X.-D.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2020.3007541
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000125030
Erschienen in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Nachgewiesen in Scopus
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