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On the Workload Dependence of Self-Heating in FinFET Circuits

Van Santen, Victor M.; Amrouch, Hussam; Kumari, Pooja; Henkel, Jörg


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCSII.2019.2959700
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Zitationen: 1
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Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1549-7747, 1558-3791
KITopen-ID: 1000125039
Erschienen in IEEE transactions on circuits and systems / 2
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 67
Heft 10
Seiten 1949–1953
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