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Impact of Interface Traps Induced Degradation on Negative Capacitance FinFET

Prakash, Om; Gupta, Aniket; Pahwa, Girish; Henkel, Jorg; Chauhan, Yogesh S.; Amrouch, Hussam



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/EDTM47692.2020.9118008
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 04.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-7281-2540-4
KITopen-ID: 1000125046
Erschienen in 2020 4th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), Penang, Malaysia, 6-21 April 2020
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1–4
Nachgewiesen in Scopus
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