Impact of Interface Traps Induced Degradation on Negative Capacitance FinFET
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 04.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-7281-2540-4 KITopen-ID: 1000125046 |
| Erschienen in | 2020 4th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), Penang, Malaysia, 6-21 April 2020 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–4 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |