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Impact of NBTI Aging on Self-Heating in Nanowire FET

Prakash, Om; Amrouch, Hussam; Manhas, Sanjeev; Henkel, Jorg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/DATE48585.2020.9116267
Scopus
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 03.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9819263-4-7
KITopen-ID: 1000125047
Erschienen in 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, Grenoble, France, France, 9-13 March 2020
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1514–1519
Nachgewiesen in Scopus
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