Impact of NBTI Aging on Self-Heating in Nanowire FET
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 03.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9819263-4-7 KITopen-ID: 1000125047 |
| Erschienen in | 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, Grenoble, France, France, 9-13 March 2020 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1514–1519 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |