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Impact of NBTI Aging on Self-Heating in Nanowire FET

Prakash, Om 1; Amrouch, Hussam 1; Manhas, Sanjeev 1; Henkel, Jorg 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/DATE48585.2020.9116267
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 03.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9819263-4-7
KITopen-ID: 1000125047
Erschienen in 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, Grenoble, France, France, 9-13 March 2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1514–1519
Nachgewiesen in Dimensions
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