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From the EIC: Special Issue on VTS

Henkel, Jörg

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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 08.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2168-2356, 2168-2364
KITopen-ID: 1000125050
Erschienen in IEEE design & test
Band 37
Heft 4
Seiten 4
Nachgewiesen in Web of Science
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