From the EIC: Robust Machine Learning
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 04.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2168-2356, 2168-2364 KITopen-ID: 1000125052 |
| Erschienen in | IEEE design & test |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 37 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 4 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |