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Stack Usage Analysis for Efficient Wear Leveling in Non-Volatile Main Memory Systems

Hakert, Christian; Yayla, Mikail; Chen, Kuan-Hsun; Bruggen, Georg von der; Chen, Jian-Jia; Buschjager, Sebastian; Morik, Katharina; Genssler, Paul R.; Bauer, Lars; Amrouch, Hussam; Henkel, Jörg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/MLCAD48534.2019.9142113
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 09.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-7281-5759-7
KITopen-ID: 1000125056
Erschienen in 2019 ACM/IEEE 1st Workshop on Machine Learning for CAD (MLCAD), Canmore, AB, Canada, 3-4 Sept. 2019
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1–6
Nachgewiesen in Scopus
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