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Reliability Challenges with Self-Heating and Aging in FinFET Technology

Amrouch, Hussam; Van Santen, Victor M.; Prakash, Om; Kattan, Hammam; Salamin, Sami; Thomann, Simon; Henkel, Jörg


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IOLTS.2019.8854405
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Zitationen: 3
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Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 07.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-7281-2491-9
KITopen-ID: 1000125065
Erschienen in 2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Rhodes, Greece, Greece, 1-3 July 2019
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 68–71
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