Reliability Challenges with Self-Heating and Aging in FinFET Technology
Amrouch, Hussam 1; Van Santen, Victor M.
; Prakash, Om 1; Kattan, Hammam 1; Salamin, Sami 1; Thomann, Simon 1; Henkel, Jörg 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
; Prakash, Om 1; Kattan, Hammam 1; Salamin, Sami 1; Thomann, Simon 1; Henkel, Jörg 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 07.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-7281-2491-9 KITopen-ID: 1000125065 |
| Erschienen in | 2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), Rhodes, Greece, Greece, 1-3 July 2019 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 68–71 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |