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Impact of Variability on Processor Performance in Negative Capacitance FinFET Technology

Amrouch, Hussam; Pahwa, Girish; Gaidhane, Amol D.; Dabhi, Chetan K.; Klemme, Florian; Prakash, Om; Chauhan, Yogesh Singh


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCSI.2020.2990672
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Zitationen: 13
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 09.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1549-8328, 1558-0806
KITopen-ID: 1000125070
Erschienen in IEEE transactions on circuits and systems / 1
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 67
Heft 9
Seiten 3127–3137
Vorab online veröffentlicht am 11.05.2020
Nachgewiesen in Dimensions
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