Investigation of Energy Relaxation Processes in Ultra-Thin NbN Films with Frequency Domain Measurements
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsdatum | 05.10.2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000125130 |
| Veranstaltung | Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2009), Oberhof, Deutschland, 04.10.2009 – 06.10.2009 |