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Spectral response of a SNSPD with different thickness of NbN films

Hofherr, M.; Ilin, K.; Semenov, A.; Gippius, N.; Rall, D.; Hübers, H.-W.; Siegel, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Poster
Publikationsdatum 05.10.2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000125131
Veranstaltung Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2009), Oberhof, Deutschland, 04.10.2009 – 06.10.2009
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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