Measurements of energy relaxation time in thin YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-X}$ films on sapphire substrates
Probst, P.; Rall, D.; Hofherr, M.; Wünsch, S.
; Il'in, K.; Siegel, M.
; Il'in, K.; Siegel, M.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsdatum | 05.10.2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000125172 |
| Veranstaltung | Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2009), Oberhof, Deutschland, 04.10.2009 – 06.10.2009 |