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Measurements of energy relaxation time in thin YBa_2Cu_3O_(7-X) films on sapphire substrates

Probst, P.; Rall, D.; Hofherr, M.; Wünsch, S.; Ilin, K.; Siegel, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Poster
Publikationsdatum 05.10.2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000125172
Veranstaltung Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2009), Oberhof, Deutschland, 04.10.2009 – 06.10.2009
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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