Critical current density of Nb and NbN thin-film structures for Single-Photon Detector

Ilin, K.; Siegel, M.; Semenov, A.; Engel, A.; Hübers, H.-W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsdatum	13.09.2004
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000125179
Veranstaltung	Tagung Kryoelektronische Bauelemente (KRYO 2004), Goslar, Deutschland, 12.09.2004 – 14.09.2004