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Defect Characterization of Spintronic-based Neuromorphic Circuits

Münch, Christopher; Tahoori, Mehdi B.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IOLTS50870.2020.9159722
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72818-187-5
KITopen-ID: 1000125394
Erschienen in Proceedings 2020 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
Veranstaltung 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2020), Online, 13.07.2020 – 15.07.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Bemerkung zur Veröffentlichung Die Veranstaltung fand wegen der Corona-Pandemie als Online-Event statt
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