Defect Characterization of Spintronic-based Neuromorphic Circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-72818-187-5 KITopen-ID: 1000125394 |
| Erschienen in | Proceedings 2020 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) |
| Veranstaltung | 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2020), Online, 13.07.2020 – 15.07.2020 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | Die Veranstaltung fand wegen der Corona-Pandemie als Online-Event statt |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |