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Anomaly Detection for Automotive Diagnostic Applications Based on N-Grams

Rumez, Marcel; Lin, Jinghua; Fuchß, Thomas; Kriesten, Reiner; Sax, Eric



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/COMPSAC48688.2020.00-56
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 07.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-7281-7304-7
KITopen-ID: 1000125420
Erschienen in 2020 IEE, 44th Annual Computers, Software, and Applications Conference (COMPSAC), : Madrid, Spain, 13-17 July 2020
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1423–1429
Nachgewiesen in Scopus
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