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Einfluss der Volumen- und Shell-Dickenmodellierung auf die hauptspannungsbasierte Trajektorienberechnung zur Bestimmung von Sickenverläufen

Revfi, Sven; Fünkner, Moritz; Albers, Albert; Behdinan, Kamran



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000125540
Erschienen in Conference Proceedings NAFEMS20 DACH. Hrsg.: NAFEMS Deutschland, Schweiz GmbH, Österreich
Veranstaltung 5. NAFEMS DACH Conference (2020), online, 13.10.2020 – 14.10.2020
Seiten 98–101
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