Einfluss der Volumen- und Shell-Dickenmodellierung auf die hauptspannungsbasierte Trajektorienberechnung zur Bestimmung von Sickenverläufen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000125540 |
| Erschienen in | Conference Proceedings NAFEMS20 DACH. Hrsg.: NAFEMS Deutschland, Schweiz GmbH, Österreich |
| Veranstaltung | 5. NAFEMS DACH Conference (2020), Online, 13.10.2020 – 14.10.2020 |
| Seiten | 98–101 |